CLJ-E型（半導(dǎo)體激光）塵埃粒子計(jì)數(shù)器 
CLJ-E型激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器用于測(cè)量潔凈環(huán)境中單位體積空氣內(nèi)的塵埃粒子大小及數(shù)目，可直接檢測(cè)潔凈度等級(jí)為百級(jí)至的潔凈環(huán)境。本儀器采用了半導(dǎo)體激光光源，高亮度數(shù)碼管顯示，體積小、重量輕、檢測(cè)精度高、功能操作簡(jiǎn)單明了，微處理器控制，可貯存、打印測(cè)量結(jié)果，可判定凈化級(jí)別，測(cè)試潔凈環(huán)境十分便利。 
該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子、光學(xué)、化學(xué)、食品、化妝品、醫(yī)藥衛(wèi)生、生物制品、航空航天等部門(mén)。 
主要技術(shù)參數(shù)及性能： 
1.光源:全半導(dǎo)體激光光源 
2.采樣量:2.83L/min(0.1cfm/min)瑞士*1%FS高精度流量計(jì)校驗(yàn)流量 
3.流量氣泵：進(jìn)口采樣泵 
4.檢測(cè)范圍:100級(jí)～100萬(wàn)級(jí)   
5.允許被測(cè)試空氣的含塵濃度≯10萬(wàn)顆/2.83L 
6.粒徑通道:0.3 0.5 1.0 3.0  5.0 10.0μm六檔 
7.顯示或打印可將2.83升/分內(nèi)所含顆粒轉(zhuǎn)換成1m3所含顆粒數(shù)。 
8.采樣周期:1～10 (min) 
9.自?xún)魰r(shí)間:≤10 (min) 
10.校準(zhǔn)：我公司已通過(guò)計(jì)量建標(biāo)考核，可追溯至上海計(jì)量測(cè)量技術(shù)研究院可自行進(jìn)行校準(zhǔn)或第三方計(jì)量機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn) 
11.工作環(huán)境:溫度:10～35℃   相對(duì)濕度:20～75%RH 
12.zui大功耗:20W 
13.測(cè)量溫度和濕度的范圍與精度：（選購(gòu)） 
（1）溫度：0～50℃±1℃ 
（2）濕度：0～100%RH±5% 
14.采樣點(diǎn)數(shù)  2～9點(diǎn)設(shè)定 
15.每點(diǎn)采樣次數(shù)  2～9次設(shè)定 
16.UCL報(bào)表0：0000000符合FS-209E、中國(guó)GMP的標(biāo)準(zhǔn) 
17.工作時(shí)間：8小時(shí) 
18.電源：AC220V±10%   50±2Hz 
19.重量:3.5kg 
20.外形尺寸:220×280×135mm 
21.六檔粒徑塵埃濃度同時(shí)檢測(cè)，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。 
22.備注:內(nèi)置打印機(jī)、自動(dòng)判斷凈化等級(jí)、等動(dòng)力采樣頭、采樣架、鋁合金儀器箱 
(溫濕度探頭為選購(gòu)件)

〖 關(guān)閉 〗